放射杂质压缩试验

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.放射性本底测定：总放射性水平测定，表面辐射水平测定，本底计数稳定性测定。

2.杂质含量分析：放射性杂质含量测定，微量杂质分布分析，杂质均匀性测定。

3.压缩性能测试：压缩强度测定，压缩变形测定，压缩回弹性能测定。

4.受压稳定性评价：受压后结构稳定性测定，受压后杂质固定性测定，受压后裂纹变化分析。

5.辐射变化监测：压缩前后辐射水平对比，局部辐射异常点排查，辐射波动性测定。

6.析出特性检测：受压析出物测定，颗粒脱落分析，表面沉积物检测。

7.密度与孔隙分析：体积密度测定，孔隙率测定，压缩后孔结构变化分析。

8.均匀性检测：材料内部一致性测定，局部富集现象分析，截面分布均匀性检测。

9.耐久性评估：重复压缩后稳定性测定，长期受压变化分析，疲劳损伤观察。

10.安全性检测：受压工况下释放风险分析，放射性残留评估，使用环境适应性测定。

11.表面状态检查：表面完整性观察，压痕变化测定，表层剥离情况检测。

12.微观结构分析：微观形貌观察，颗粒结合状态分析，压缩前后组织变化测定。

检测范围

矿物粉体、陶瓷材料、水泥制品、耐火材料、砖块、混凝土试块、石材板材、玻璃材料、金属块材、金属粉末、屏蔽材料、填充材料、复合板材、聚合物块材、密封垫片、绝缘材料、实验室用低本底材料、电子封装材料

检测设备

1.压缩试验机：用于对样品施加可控压力，测定压缩强度、变形量及受压响应。

2.辐射测量仪：用于测定样品表面及周围环境的辐射水平，监测受压前后变化情况。

3.低本底计数装置：用于测量样品微弱放射性信号，提高放射性杂质识别能力。

4.密度测定仪：用于测定样品体积密度，分析压缩前后材料致密化变化。

5.显微观察设备：用于观察样品表面形貌、裂纹扩展及颗粒结合状态。

6.孔隙结构分析仪：用于测定孔隙率及孔结构分布，评估压缩对内部结构的影响。

7.电子天平：用于测定样品质量变化，辅助分析受压后析出物或脱落物情况。

8.尺寸测量仪：用于测量样品厚度、直径和压缩形变量，支持形变计算。

9.表面污染检测仪：用于检测样品表面可能存在的放射性污染或受压后局部沉积情况。

10.样品制备装置：用于样品切割、成型与表面处理，保证压缩试验和辐射检测条件一致。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质